高分辨率平板(ban)探(tan)測器 X 射線 CMOS成(cheng)像(xiang)板(ban),F2923 為二維 CMOS X 射線平板(ban)探(tan)測器,具有(you)高分辨率、 低噪聲、大面陣、高幀率和寬動(dong)態(tai)范圍等(deng)特(te)點。綜合應(ying)用(yong)派登斯(si)的(de) CMOS 圖像(xiang)傳感器設計技(ji)術及(ji) ADC 集成(cheng)一體化方案,產(chan)品(pin)結構緊(jin)湊(cou),技(ji)術性能優良。基于其(qi)可靠性高、 易(yi)于集成(cheng)等(deng)特(te)點,可有(you)效(xiao)降低在苛刻環境中、重負荷應(ying)用(yong)下 對成(cheng)像(xiang)系統的(de)校準和維護要求。